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透過高解析度穿透式電子顯微鏡影像，可以觀察到完美的SiC原子影像以及如原子錯位的缺陷，提供製程工程師優化離子佈植與熱處理等訊息...

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EE Times《電子工程專輯》結合實體雜誌與數位電子報。每日提供最新的電子產業資訊與科技趨勢，並分享研討會資訊。 <和工程師們一起改變世界，與電子產業共同創造未來>

透過高解析度穿透式電子顯微鏡影像，可以觀察到完美的SiC原子影像以及如原子錯位的缺陷，提供製程工程師...